打破瑕疵檢測束縛：偲倢科技攜手中央大學資訊工程學系，重塑瑕疵檢測新標準

打破瑕疵檢測束縛：

偲倢科技宣布與中央大學資工系展開深度合作，致力於工業瑕疵檢測領域的創新研究（左為偲倢科技執行長陳青煒，右為國立中央大學資訊工程學系蘇柏齊教授）

偲倢科技（Spingence Technology）日前宣布與國立中央大學資訊工程學系展開深度合作，共同致力於工業瑕疵檢測領域的創新研究與開發。以「建立工業瑕疵檢測之通用深度學習模型暨標記方法」為合作宗旨，旨在打破瑕疵檢測領域的技術束縛，提升檢測效能，並降低檢測成本。

工業瑕疵檢測一直是製造業品質控制中至關重要的一環。然而，傳統的檢測方法往往受限於人工目測方式，耗時耗力且不夠準確。為了解決這一挑戰，偲倢科技與中央大學資訊工程學系攜手展開此次合作，期望能夠通過深度學習技術的應用，實現工業瑕疵檢測的自動化和高精度。

偲倢科技 AI 開發經理黃靖瑋表示：「這次合作的動機源於我們對工業瑕疵檢測領域的深入觀察。傳統的通用模型存在限制，特別是在適應新任務和新環境方面。因此，我們希望通過與中央大學的合作，開發更加通用且適應性更強的深度學習模型，以應對工業瑕疵檢測的各種挑戰。」

具體來說，此次研究計畫將聚焦於兩大挑戰：通用模型之限制和資料標記之繁複性。首先，傳統的通用模型在工業瑕疵檢測中難以應對不同的環境和任務，且存在 Catastrophic Forgetting 的風險。因此，研究團隊將致力於開發更加通用的深度學習模型，提高模型在新任務中的適應性和訓練速度。

其次，資料標記是工業瑕疵檢測中的一大挑戰。資料標記包含包覆框標記和裁切標記，即使前者對標記員的負擔較小，然而多數模型都需要裁切標記，且其生成過程較為繁複，因此，研究團隊將面臨著如何將包覆框標記轉換為裁切標記的挑戰。

「我們相信，通過偲倢科技與中央大學資訊工程學系的合作，我們將能夠打破瑕疵檢測領域的技術束縛，為工業品質控制帶來一次革命性的改變。」黃靖瑋經理期待地表示。「我們期待著透過此次合作，為工業瑕疵檢測領域帶來更加準確、高效的解決方案，助力製造業提升產品品質，提升競爭力。」

這次合作將為工業瑕疵檢測領域注入新的活力與創新，進一步推動智慧製造的發展，偲倢科技期待著在這個領域取得更多突破和成就。